X-RAY射线牛津仪器OXFORD镀层测厚仪 

产地：英国      型号：MAXXI 5     品牌：牛津仪器OXFORD

MAXXI 5主要技术规格如下：

No. 主要规格 规格描述
1 激发系统 垂直从上至下照式光学系统
  牛津原产空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
  标准靶材： W
  功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
功率可编程控制
  装备有安全防射线光闸

2 截谱技术 提供*的元素截谱技术，可分辨出相怜元素的信号，如Cu/Ni等元素，无需配置滤光片，从而达到优化信号强度的功能。
3 准直器程控交换系统 zui多可同时装配4种规格的准直器，程序切换控制
  多种规格尺寸准直器任选：0.3mm 或0.5mm或多准直器系统
-0.06 x 0.06mm, 0.05 x 0.15mm, 0.1mm,0.2mm Ø
4 测量斑点尺寸 在35mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

5 X射线探测系统 封气正比计数器
  装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6 样品室  
 －样品室结构 开槽式样品室 
 －样品台尺寸 500mm x600mm（手动台） 300mm x250mm（自动台）
 －XY轴程控移动范围 标准：300 x 250mm
 －Z轴程控移动高度 170mm 程控平台， 170mm
手动平台，  350mm
 －XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
 －样品观察系统 高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为20倍。
  激光辅助定位功能
  可变焦距控制功能和固定焦距控制功能（选配）
  光学自动聚焦功能
7 计算机系统配置 德国随主机配置电脑主机，配置不低于2048道连续近处理ADC（数模转换器），计算机压缩为512个通道。台式或直立式机箱电脑*的中央处理器，例如IN Pentium or AMD Athlon。HDD, DVD-ROM, RAM,键盘，鼠标

8 分析应用软件 操作系统：Windows7.0中文平台
分析软件包：X-MasteR FP软件包
 －无标样分析程序 Fun- MasteR
应用程序向导。在无标样情况下使用基本参数法生成厚度测量应用。简单，三步模式创建一个新的应用，无需使用标准样品。避免大量，昂贵的厚度标准片。

 －测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。不同元素不同应用设备Fun-MasteR提示厚度测试范围
 －基本分析功能 无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
  样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
  可检测元素范围：Ti22 – U92
  可同时测定5层/20种元素/共存元素校正
  组成分析时，可同时测定20种元素
  贵金属检测，如Au karat评价（选配）
  材料和合金元素分析
  材料鉴别和分类检测（选配）
  液体样品分析，如镀液中的金属元素含量（选配）
  元素光谱定性分析
 －调整和校正功能 系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移
  谱峰计数时，峰漂移自动校正功能
  谱峰死时间自动校正功能
  谱峰脉冲堆积自动剔除功能
  标准样品和实测样品间，密度校正功能
  谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
 －测量自动化功能 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
  多点自动测量模式：多点顺序和重复测量模式
  自动对焦功能
 －样品台程控功能 可通过鼠标或是遥控杆控制XYZ轴，可通过XYZ-Stage设定多
点测试程序。
 －统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
  数据库存储功能，可存储带样品图像的Word报告，模板客户可自定义。
  任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
 －系统安全监测功能 Z轴保护传感器
  样品室门开闭传感器
  操作系统多级密码操作系统：操作员、工程师

吴生：151九零一九4078

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